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测试系统 DL-00063-00
ACS基础版能够帮助负责封装部件特征分析的技术人员和工程师发挥最高的生产效率,应用范围包括器件早期研究与开发、质量检验和失效分析。
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ACS integrated test systems are highly configurable, instrument based systems for semiconductor characterization at the device, wafer, or cassette level; offering unique measurement capability with powerful and flexible a…
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它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。
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相比之前的产品,利用854X激光二极管配架系列能够更容易地配置出一套用于连续波测试的完整激光二极管LIV测试系统。
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相比之前的产品,利用854X激光二极管配架系列能够更容易地配置出一套用于连续波测试的完整激光二极管LIV测试系统。
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主要特点及优点
双通道仪表,用于光功率测量
光电探测器电压偏置性能±100V
1fA~20mA的光电探测器电流测量能力
1fA暗电流测量分辨率
与2500INT积分球配合实用可以直接测量光功率
针对高分辨率光功率反馈的0~10V模拟输出范围…
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脉冲式激光二极管测试系统是一款用于激光二极管制造工艺流程早期测试的综合同步测试系统,尤其是当无法轻易实现合适的温度控制时。
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积分球是针对2520型脉冲激光二极管测试系统的光功率测量功能而优化设计的。
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脉冲式激光二极管测试系统是一款用于激光二极管制造工艺流程早期测试的综合同步测试系统,尤其是当无法轻易实现合适的温度控制时。
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