MaXXi 5/5PINMaXXi 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪

添加时间：2010-5-26 9:31:24 担当：未知 阅读：次

X射线荧光分析测厚仪 
    X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。 
    豪华的设计，宽大的测试箱，集所有优点于一身。更配备半导体电子冷却检测器，令仪器的综合性能指数变得无出其右。适合各类行业使用。
    安全性能：通过德国PTB安全验证，符合德国最高安全法规标准。
    可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)
    可测量厚度范围：
    22-25，0.1-0.8μm
    26-40，0.05-35μm
    43-52，0.1-100μm
    72-82，0.05-5μm
    准直器：0.1mm  0.3mm  0.1mm×0.3mm 。
     可选四个组合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm
    50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um
特别订造
    Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。
    自动测量功能：编程测量，自定测量
    修正测量功能：底材修正，已知样品修正
    综合性能：镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
    镀层分析：可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。
    镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。
    定性定量分析：光谱表示，光谱比较，可定性分析20多种金属元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。     

    光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。
    统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图，能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。

定货信息：