CHY-CAX测厚仪

适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量及试验相关信息监控与支持实验室综合数据在线管理云计算。

特征
微电脑控制、LCD图形液晶显示参数、结果
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测量头自动升降
自动进样
手动、自动测量模式
数据实时显示、自动统计
显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
标准接触面积、测量压力（非标可选）
标准量块标定
RS232接口

实验室环境监测
能源记录、耗能曲线分析
水平状态智能提示
传感器标定智能提示
中英文双语操作环境
设备利用率、试验次数统计
痕迹记录、管理
内嵌式电子帮助文档

全程试验数据无缝无线传输
Mesh网络无线智能路由
支持试验数据云计算在线管理

技术指标
1.测试指标
测量范围：0～2mm（标准）
　　　　　0～6mm，12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000mm
进样速度：0.1～99.9mm/s

2.环境监测
网电电压检测范围：0～250V；精度：0.5%
耗能电流检测范围：0～5A；精度：0.5%
功耗分析精度：0.5%
环境温度检测：-55℃～155℃；精度：0.1%
环境湿度检测：0～100%RH；精度：2% RH
设备振动检测范围：-2g～ 2g / 0~400Hz
设备水平度检测：-10°～10°

3.其它指标
电源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
净重：33kg

标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
配置
标准配置：主机、标准量块一件、无线数据接口
选 购 件：测量头、配重砝码
云服务配置选购：无线数据模块、高增益天线