XDW-LD雷达物位计

XDW-LD系列雷达物位计适用于对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量，适用于温度、压力变化大；有惰性气体及挥发存在的场合。XDW-LD雷达物位计采用微波脉冲的测量方法，并可在工业频率波段范围内正常工作。波束能量较低，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对人体及环境均无伤害。

特性与优势：
1.无盲区，高精度。
2.两线制技术，是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品。
3.不受压力变化、真空、温度变化、惰性气体、烟尘、蒸汽等环境影响。
4.安装简便，牢固耐用，免维护。
5.HART或PROFIBUS-PA通信协议及基金会现场总线协议，标定简便、通过数字液晶显示轻松实现现场标定操作，通过软件GDPF实现简单的组态设定和编程。
6.测量灵敏，刷新速度快。
7.适用于高温工况，高达200℃过程温度，当采用高温延长天线时可达350℃。

测量原理：
雷达物位计天线发出微波脉冲，在被测物料表面产生反射，并被雷达系统所接收。

输入：
天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成，精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比：
D=C×T/2
其中C为光速
因空罐的距离E已知，则物位L为：
L=E-D

输出：
通过输入空罐高度E（=零点），满罐高度F（=满量程）及一些应用参数来设定，应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于4－20mA输出。
测量盲区：
盲区（BD）是从测量参考点到最高物位时的介质表面的最小距离。

注意事项：
1.测量范围从波束触及罐低的那一点开始计算，但在特殊情况下，若罐低为凹型或锥形，当物位低于此点时无法进行测量。
2.若介质为低介电常数当其处于低液位时，罐低可见，此时为保证测量精度，建议将零点定在低高度为C 的位置。
3.理论上测量达到天线尖端的位置是可能的，但是考虑到腐蚀及粘附的影响，测量范围的终值应距离天线的尖端至少50mm。
4.对于过溢保护，可定义一段安全距离附加在盲区上。
5.最小测量范围与天线有关。
6.随浓度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以将其反射，但在一定的条件下是可以进行测量的。

测量范围超出的动作：
当测量范围超出时，仪表输出为22mA电流。
电气连接：
两线制
HART通信的最小负载：250Ω
电缆入口：M20×1.5
内设极性反接，射频干扰，及尖峰过压的保护电路。

调试：
GDPULS可以通过三种方式调试：
通过显示调整模块GPM
通过调试软件GDPFSOFTWARE
通过HART手持编程器
现场现场编程模块（GPM）
GPM编程器由6个按键和一个液晶显示屏，可以显示调整菜单和参数设置。其功能相当于一个分析处理仪表。
通过GDPF软件调试
无论那种信号输出，4-20mA/HART, Profibus PA,雷达传感器都可以通过软件进行调试。采用GDPF软件进行调试，GDPULS需要一个仪表CONNECTCAT驱动器。软件和CONNECTCAT驱动器可以作为附件订购。

使用软件调试的时候，给雷达仪表加电24VDC，同时在连接HART适配器前端加一个250欧姆的电阻。如果一体式HART电阻（内部电阻250欧姆）的供电仪表，就不需要附加外部电阻，这时候HART适配器可以和4-20mA线并联。