泰亚赛福 —— 世界领先的检测仪器集成供应商
努力为您创造价值
智能 编号 品牌
量仪
产品导航
 您当前的位置:几何体检测 >> 量仪 >> 测量仪 >> PARAM CHY-C2测厚仪

PARAM CHY-C2测厚仪

添加时间:2011-3-28 编辑:801 阅读:

  • 产品名称:PARAM CHY-C2测厚仪
  • 产品定货号:MK-00807-00
  • 产地:中国
  • 推荐:
特    征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计、打印
显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
标准接触面积、测量压力(非标可选)
标准量块标定
微型打印机
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
技术指标
测量范围:0~2mm(常规)
          0~6mm;12mm(可选)
分辨 率:0.1μm
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
          注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电    源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
净    重:33kg
标    准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
配    置
标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件
选购 件:专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码

产品名称产品简介产品编号
PARAM CHY-C2测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 MK-00807-00



相关产品