1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；
2.原始射线从下至上；
3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；
4.视准器组：圆直径为0.1/0.2；正方形0.05X0..05mm；长方形0.03X0.2mm
5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）480 mm×375 mm×580 mm，重量大约为45kg；
6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×460mm）带向上回转箱门；
7.手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行，
8.试件查看用标准的彩色摄像机；
9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。

适用于Windows®2000或选择适用于Windows® XP的真Win32位程序带在线帮助功能
频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用
能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化
画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）
图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中
测量模式用于：
单、双及三层镀层系统
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量；
可编程的应用项图标，用于快速应用项选择
完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估
报告生成，数据输出
语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文
菜单中的某些选择项可授权使用