
| 订货号: | MM-27284-00 |
| 产地: | 美国 |
| 品牌: | |
| 开发编号: | N |
| 市场价: | ¥ |
| *此产品根据配置不同价格不同 |
| *此价格为参考价格,具体价格以订单合同为准 |
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主要特点及优点 |
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直观的、点击式Windows操作环境
独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA
用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试
支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
硬件由Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充
包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
支持先进的半导体模型参数提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso |
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容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。 |
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应用 |
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半导体器件:
片上参数测试
晶圆级可靠性
封装器件的特性分析
使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析
高K栅电荷俘获
易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试
电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度
电阻式或电容式MEMS驱动特性分析
光电器件:
半导体激光二极管DC/CW特性分析
收发模块DC/CW特性分析
PIN和APD特性分析
科技开发:
碳纳米管特性分析
材料研究
电化学 |
6201多功能测试仪订货号:MM-00099-00
F725多功能过程仪表校准器,FLUKE725过程校验仪订货号:MM-00280-00
F744多功能过程校准器订货号:MM-01500-00
MAXTEST2038多功能测试仪订货号:MM-01447-00
Fluke726多功能过程校准仪,超高性价比过程校准仪订货号:MM-02504-00
ALTEK830E多功能校验仪订货号:MM-04071-00
ALTEK820E多功能校验仪订货号:MM-04080-00
Model BB704红外校准器订货号:MM-03839-00
Models BB704-230VAC红外校准仪订货号:MM-03843-00
Model BB705红外校准器订货号:MM-03859-00
Model BB705-230VAC红外校准器订货号:MM-03860-00
Fluke 725S中文多功能过程仪表校准器订货号:TA-02035-00
| 定货号 | 产品名称 | 规格配置 / 简介 | 市场价/(会员价) |
|---|---|---|---|
| MM-27284-00 | 4200-SCS型半导体特性分析系统 | /() |
