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Rise-2002型激光粒度分析仪
Rise-2002型激光粒度分析仪
订货号: MM-34181-00
产地: 中国
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开发编号: N
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Rise系列激光粒度分析仪工作原理:
  Rise系列激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。
  颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律,再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单,但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差, 从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。
  无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设,通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级,给设备本身提出很高的要求。Rise系列激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级,从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。

 



品牌简介

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