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Microview一体式ATEX露点仪
Microview一体式ATEX露点仪
订货号: MM-47396-00
产地: 英国
品牌:
开发编号: N
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产品描述:

简介
·MCM独特的温控硅质传感系统,“Push Purge”和最新ATEX认证的电路相结合的分析仪
·尺寸仅为200mm x 100mm x 62mm,并且重量只有1Kg
特点
·连续的在线分析。适用于惰性和危险气体测试
·包括:天然气、甲烷、 LNG / LPG、氢气、氩气、氧气、氮气、氦气、空气和易挥发烃类化合物(碳链最长到C5)
·MicroView紧凑的系统组成使之能够在高污染的环境中使用
·无可比拟的即时响应速度
技术规格
·温度传感器类型: 温控硅质传感器,温度控制直到46℃
·操作范围: 标准为1-1000ppm。根据要求可提供其它范围
·分 辨 率: 1ppm
·稳 定 性: 测试范围的±1%范围之内
·响应速度: 使用“Push Purge”功能从满刻度“湿”到“干”小于一分钟
·样品流速: 自由流动,推荐采用流速:0.05-1L/min
·显 示 器: 带背景光的LCD显示屏
·样气压力: 1个大气压
·ATEX等级:II 1G EEx ia IIC T4 Ta = -20℃~60℃
·诊 断: “Push Purge”特征传感器可以确认传感器和电子元件正常运行,同时突出传感器的污染状态
·“Push Purge”可确定该仪器的响应速度
·同时在每一次测量之前通过消除滞后的在线读数来验证
·电 源: 12V直流,标准支持循环动力4-20mA输出
·校 准: ppm以内,源于本国国家标准
·尺 寸: 200(W)×100(H)×62(D)mm
·重 量: 约为1kg
温度控制 – 良好的湿度测定必备的先决条件
·温度控制在湿度测定中的必要性已经通过物理定律被证实
·它揭示所有吸湿物质在他们相关的温度下损失或者增加湿度
·留心观察你会发现,例如:冰冷的表面会凝结,同时当相同的表面其温度上升并超过露点温度时,凝结将会消失
稳定的操作温度=稳定读数
·这个原理适用于任何湿度探头
·温度的改变将引发传感器保持平衡状态时水量的变化
·如果不使用温度控制,在任何测量方法下都会引发许多不稳定因素
·所以,如果传感器要对一固定水分浓度提供重复响应,它必须在恒定的温度下运行
·因此,所有MCM的分析仪都具备一共同特征——温度控制
有效的确认方法
·当使用“Push Purge”功能时滞后的影响是微小的
·因为每一次测量均使用在可重复、干燥条件下的探头
·同时,通过使用“Push Purge”探头的干燥功能加速平衡过程
·每一次测量需要的稳定时间被大幅的减少
·这个时间被认为是在现场条件下从干燥状态到水蒸气平衡重新建立来确定分析仪对湿度的灵敏度的响应时间
诊断功能
·任何分析仪拥有不干扰样品条件本身,对改变不同湿度水平下确认灵敏度或响应速度的能力
·这对于任何操作者收集可靠的数据是非常有价值的
·因此,“Push Purge”功能对帮助提高生产力和质量控制来说是非常重要的诊断工具


品牌简介

MCM公司于1968年由当时一批来自湿度/露点分析领域的优秀工程师在英国创立,经过长期对湿度/露点标准进行研究和开发,终于在70年代获得重大技术突破,生产出了第一批符合工业…MCM公司于1968年由当时一批来自湿度/露点分析领域的优秀工程师在英国创立,经过长期对湿度/露点标准进行研究和开发,终于在70年代获得重大技术突破,生产出了第一批符合工业测量要求的新一代标准的湿度计——可控硅晶片探头,该类型探头不仅响应快速,稳定性和重复性也一样另人侧目,全面超越了氧化铝探头,从而使得MCM在该领域内开创了一个新纪元。

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