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LEPTOSKOP2042NFE统计数据型涂层测厚仪
LEPTOSKOP2042NFE统计数据型涂层测厚仪
订货号: TA-00040-00
产地: 德国
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开发编号: N
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LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 简介

● LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

 

  

 

EPTOSKOP2042涂层测厚仪 技术参数

数据传输接口RS232 或 USB

电源:电池、充电电池、USB或外接电源

测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)

测量速度: 每秒测量2个数值

存储: 最多 9999 个数值,140个文件

误差:

涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)

涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um

涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um

涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um

 

 

 

 

LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 附件

 试块和膜片

● 探头定位装置 (适用于微型探头)

 定位辅助装置 (适用于微型探头)

 电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

 电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows

 

 

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