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CMI153涂层测厚仪
CMI153涂层测厚仪
订货号: MM-65535-00
产地: 英国
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The CMI153 features dual measurement technology that automatically detects either ferrous or non-ferrous substrates and then employs either magnetic induction or eddy-current technology. Built upon our highly successful CMI150 architecture the CMI153 delivers an improved measurement probe with enhanced performance and superior substrate sensitivity. 
Useful in a wide variety of settings, the CMI153 measures non-conductive coatings over non-ferrous substrates (primarily Al, Cu as close to 100% IACS conductivity is required) and non-magnetic coatings over ferrous substrates. The system was specially designed to handle the needs of platers, coaters, and quality professionals


品牌简介

英国Oxford公司(牛津仪器)是一家世界领先的高科技系统设备供应商。设计制造的设备可以在原子和分子层面,制造、分析和操控物质,并广泛应用于研究和工业领域为客户提供完美…英国Oxford公司(牛津仪器)是一家世界领先的高科技系统设备供应商。设计制造的设备可以在原子和分子层面,制造、分析和操控物质,并广泛应用于研究和工业领域为客户提供完美的解决方案。牛津仪器的业务主要分为纳米分析设备、工业分析设备和服务三大部分,Oxford精益求精不断进行技术改进和创新,为客户提供高品质的产品和服务,以满足日益增长的市场需求。

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