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FS® XDVM-W测厚仪
FS® XDVM-W测厚仪
订货号: MM-65720-00
产地: 德国
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FS® XDVM-W测厚仪
FISCHERSCOPE® XDVM®-W
 
       FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括:2组可切换的各带4个视准器的视准器组,大的开槽的测量箱体确保工件放置简便,精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。
这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件,例如螺丝,连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量,并可自动的进行评估报告输出。
其它不同版本的仪器参见“技术详细信息"


品牌简介

德国菲希尔公司Fischer测量技术--在测量技术领域内领航 高质量水准的FISCHER仪器是多年的工业领域经验积累,广泛的科研及与有名望的合伙人合作的结果。FISCHER是可靠的和胜任…德国菲希尔公司Fischer测量技术--在测量技术领域内领航 高质量水准的FISCHER仪器是多年的工业领域经验积累,广泛的科研及与有名望的合伙人合作的结果。FISCHER是可靠的和胜任的合作伙伴,能提供正确的建议,广泛的服务和应用培训研讨会。今天,FISCHER仪器已成功应用于工业,科研及所有的工程领域。

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