涂层测厚仪

2010/5/26 9:41:49 阅读：780次

涂层测厚仪
      采用了磁性和涡流两种测厚方法，配F型测头可无损伤地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，配N型测头可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电层的厚度
      可使用6种测头F400、F1、F1/900、F10、N1、CN02
      两种测量方式：直接方式（DIRECT），成组方式（APPL）
     设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）
      可采用两种方法对仪器进行校准
      可存贮495个数据
      具有删除功能，对测量的单个或所有数据删除
      具有打印功能
      电源欠压指示功能
      操作过程中有蜂鸣声（单次测量方式下）
      错误提示功能
      手动和自动两种关机功能
涂层测厚仪技术参数：

测头类型	可选，见附表1
工作原理	磁感应和涡流
测量范围	见附表1
低限分辨率	见附表1
示值误差	见附表1
测试条件	见附表1
使用环境	温度：0~400C
	相对温度：20%~90%
	无强磁场环境
电源	1/2镍氢电池5*1.2V 600mAh
外型尺寸	270*86*47(mm)
重量	约530g

标准配置：
      TT260主机              1
      打印机                     1
      标准片                     1
      基体                        1
      充电器                     1
      F1或N1探头             1
TT260涂层测厚仪可选附件
      其他用途的测头
      通讯电缆
      通讯软件

技术参数表

 

探头型号		F400		F1	F1/900	F10	N1	CN02
工作原理		磁感应					涡流
测量范围（mm）		0~400		0~1250		0~10000	0~1250铜上镀铬0-40	10~200
低限分辨率（mm）		0.1		0.1		10	0.1	1
示值 误差	一点校准（mm）	±(3%H+1)				±(3%H+10)	±(3%H+1.5)	±(3%H+1)
	二点校准（mm）	±((1-3)%H+0.7)		±((1-3)%H+1)		±((1-3)%H+10)	±((1-3)%H+1.5)	-
测试 条件	最小曲率半径mm	凸	1	1.5	平直	10	3	仅为平直
	最小面积的直径mm	Ø3		Ø7	Ø7	Ø40	Ø5	Ø7
	基体临界厚度mm	0.2		0.5	0.5	2	0.3	无限制

定货信息：