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LEAPER-3D掌上型烧录器2009/5/14 16:52:18 阅读：1109次
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Lp-1掌上型数位IC离线测试仪 1． 为测试数字 IC而设计 2． 可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44 3． 轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电 4． 设有empty-load测试及自动电源开关装置 5． 平均测试时间：0.8秒 规格 1． 显示：16×1字LCD 2． 测试元件接脚数：14到24PIN 选择配件： *SOP adaptor 支援元件 ·74 Serial ·40 Serial ·45 Serial ·41 Serial ·44 Serial |
| 产品编号 | 产品名称 | 产品简介 | 产品价格 |
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| ME-37003-00 | Lp-1掌上型数位IC离线测试仪 | Lp-1掌上型数位IC离线测试仪为测试数字 IC而设计;可测试元件：TTL54/74，CMOS 40/45，DRAM 41/44;轻小可携带、操作容易，可使用电池、非常省电 | 0￥ |
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