分立器件测试仪|LCR电桥表-泰亚赛福

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在任何测试频率上都有25ms的测量速度来提高一产率，这种能力提高了电解电容顺和变压器测试的效率，能检查测试端子与被测件（DUT）之间的接触状况，这种功能保证在生产中用自动处理器进行合格。不合格的测试的可靠性，有故障的被测件一旦从处理器中取去该仪器便能立即恢复正常工作，因此处理器始终能以最高速度工作。

SWP-S401、S403数字显示控制仪 ME-06750-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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C803SWP-LED数字显示控制仪 ME-06746-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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S803SWP-LED数字显示控制仪 ME-06748-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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T801SWP-LED数字显示控制仪 ME-06749-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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T803SWP-LED数字显示控制仪 ME-06747-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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SWP-C901、C903数字显示控制仪 ME-06752-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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SWP-C101、C103数字显示控制仪 ME-06754-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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SWP-LCD仪表 ME-06755-00
SWP-LCD仪表设计上吸纳了当今电脑结构思路，硬件上采用内带快闪存储器的新型微处理器，扩充了大容量的数据存储区；显示器采用大屏…
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SWP-C401、C403数字显示控制仪 ME-06751-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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SWP-C701、C703数字显示控制仪 ME-06753-00
SWP-LED系列数字显示控制仪/光柱显示控制仪采用微处理器进行控制运算，可对各种非线性输入信号进行精度极高的线性矫正测量。
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