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LEPTOSKOP2042涂层测厚仪

添加时间:2009-10-20 编辑:泰亚赛福 阅读:

  • 产品名称:LEPTOSKOP2042涂层测厚仪
  • 产品定货号:MC-02150-00
 
      LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法,是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。
      LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。
      仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
      LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
      彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
 
特点概述:
◆ 大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
◆ 校准选项
◆ 出厂时已校准,立即可用
◆ 在未知涂层上校准*
◆ 零校准*
◆ 在无涂层的基体上一点和多点校准*
◆ 在有涂层的基体上校准*
◆ 校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出
◆ 可选择的显示模式,以最佳形式去完成测量任务*
◆ 输入和极限监视*
◆ 在Windows下有简单的存储读数档案管理*
◆ 可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 统计*
◆ 可统计评估999个读数
◆ 最小值、最大值、测量个数、标准偏差和极限监视
◆ 局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)
◆ 在线统计,所有统计值概括
 
技术资料:
◆ 数据传输接口RS232 或 USB
◆ 电源:电池、充电电池、USB或外接电源
◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
◆ 测量速度: 每秒测量2个数值
◆ 存储: 最多 9999 个数值,140个文件
◆ 误差:
◆ 涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后)
◆ 涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄
◆ 涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄
◆ 涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄
 

普通型

 

铁基膜层测厚仪标准套

2042F

 

非铁基膜层测厚仪标准套

2042NF

 

铁基/非铁基膜层测厚仪标准套

2042

 

数据型

铁基

2042  Fe set  EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱

2042 EF

 

2042  Fe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱

2042DF

 

非铁基

2042 NFe set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱

2042ENF

 

2042 NFe Data Set ----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱

2042DNF

 

铁基/非铁基

2042 Fe/NFe Set EasyExport----软件适用于Windows XP/2000包括:膜层测厚仪,统计模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 EasyExport软件,操作手册,质量认证书,仪器箱

2042 E

 

2042 Fe/NFe Data Set----软件适用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括:膜层测厚仪,统计和资料模块,试块,校正薄膜,附加PC电缆和 STATWIN 2002软件,操作手册,质量认证书,仪器箱

2042 D

 

 
 
附件:
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里

产品名称产品简介产品编号
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪LEPTOSKOP2042涂层测厚仪,涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度MC-02150-00



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