荧光测厚仪，即x射线荧光镀层测厚仪，利用X-射线照射物体待测部位，从而使镀膜、素材及中间层膜产生特定的X-射线，检测系统将其转换为与X射线强度成比例的电信号，经由仪器记录处理即可得到镀膜的厚度。X射线荧光镀层测厚仪，有着快速、准确、非破坏、非接触、小面积测量、多层合金测量、高生产力、高再现性等优点，对产品质量管理及企业成本节约有着重要作用，广泛应用于电子元器件、半导体、PCB、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器等行业。
独一无二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况…
独一无二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下…
结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求
XRF5000x-射线金属PCB镀层测厚仪,全视窗95直接执行可使用文书处理软件方便打印测量报告,樣品對準系统可用滑鼠於显示屏上直接控制，…
XRF-5100 x射线金属镀层测厚仪,新全视窗95直接执行可使用文书处理软件方便打印测量报告,樣品對準系统可有滑鼠於显示屏上直接控制，…
CMI900X荧光镀层测厚仪,精度高、稳定性好,强大的数据统计、处理功能,测量范围宽,NIST认证的标准片
X-Strata960X荧光镀层测厚仪,更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩…
Compact eco X射线荧光分析测厚仪,小巧独特的设计，为您尽可能节省成本，是进口荧光分析仪最实惠的产品，适合中小工件的测量，功能…
XRF-2000荧光金属镀层测厚仪,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一…
EX-3000非接触荧光涂层测厚仪,使用与IBM PC相容个人电脑，采用MS-WINDOWS软体，使用时多彩多姿,采用二种滤波器,用用数位式滤波器外…
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