荧光测厚仪，即x射线荧光镀层测厚仪，利用X-射线照射物体待测部位，从而使镀膜、素材及中间层膜产生特定的X-射线，检测系统将其转换为与X射线强度成比例的电信号，经由仪器记录处理即可得到镀膜的厚度。X射线荧光镀层测厚仪，有着快速、准确、非破坏、非接触、小面积测量、多层合金测量、高生产力、高再现性等优点，对产品质量管理及企业成本节约有着重要作用，广泛应用于电子元器件、半导体、PCB、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器等行业。
EX-3000荧光X线膜厚计自动测定测量台利用滑鼠来调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标…
FS® XDVM-W测厚仪FISCHERSCOPE® XDVM®-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特…
COSMOS-1X荧光X线膜厚计采用二种滤波器采用数位式滤波器外另有机械式滤波器（两种滤波器）在测不定期时，若是最适当的条件下，经常…
FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
FS® X-RAY XDVM-µ测厚仪:新型号的FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微…
德国FISCHER公司X-RAY荧光测厚仪HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关…
德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时…
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