带接触检测的通用数字源表

主要特点及优点

在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率；

可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作；

内置的“源存储器”可编程序列发生器最多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要；

高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性；

内置的比较器简化了pass/fail测试；

数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手；

所有源表均由一个精密的、低噪声、高稳定的带回读功能的直流电源和一个低噪声、高重复性、高输入阻抗的5 1/2位多功能表组成，形成了紧凑的单通道直流参数测试仪。其功能相当于电压源、电流源、电压表、电流表和电阻表的综合体。通信、半导体、计算机、汽车与医疗行业的元件与模块制造商都将发现，源表仪器对于各种特征分析与生产过程测试都极具实用价值。2400-C型数字源表是一种功率为20W的仪器，能够提供并测量从±5μV（源）和±1μV（测量）到±200V的直流电压，以及从±10pA到±1A电流。它非常适合于测试各种器件，包括二极管、电阻、电阻网络、有源电路保护器件，以及便携式电池供电设备和元件。它也可以用作系统电源和IDDQ测试应用。这种接触检查功能能够在开始一个自动测试序列之前，在350μs内轻松验证测试连接情况，从而实现了最大的测试功能。这就消除了由于接触不良、磨损、玷污、松动或连接断开、中继失效等问题导致的测量错误和虚假产品失效。

应用

器件：

离散半导体器件

无源器件

暂态抑制器件

IC、RFIC、MMIC

激光二极管、激光二极管模块、LED、光电检测器

电路保护器件:

TVS、MOV、熔丝

安全气囊

连接器、开关、继电器

测试：

漏流

低压、电阻

LIV

IDDQ

I-V特征分析

隔离与轨迹电阻

温度系数

正向电压、反向击穿、漏电流

直流参数测试

直流电源

HIPOT

介质耐受性