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DC/RF参数测试系统

2010/5/22 15:36:31 阅读:619次

  • 产品名称:DC/RF参数测试系统
  • 定货号:DL-00089-00
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主要特点及优点
单一平台上的晶圆级直流/射频测试
专为最小化测试费用而设计
应用广泛
基于SECS/GEM的300mm和200mm自动化
专为高灵敏度高速测试而设计。测量仪器位于系统机柜内,而前置放大器位于测试头。前置放大器用于在探针后数厘米内放大低电平信号,再将放大了的信号通过电缆传入系统机柜内的测量仪器。这一方法消除了一般电缆和开关矩阵效应带来的速度和灵敏度损失。一个单一类型的SMU具有宽动态量程。外部仪器可以使用八条通用管路直接连接到探针。
 

定货信息:
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