射频阻抗/材料分析仪

2010/5/21 16:53:50 阅读：766次

射频阻抗/材料分析仪
主要技术指标:
基本精度
◆　基本精度 +/-0.8% 
扫描参数
◆　频率：1 MHz 至 3 GHz
◆　振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
◆　DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA 
更多特性
◆　Windows 风格的用户界面
◆　内置 VBA 编程功能
◆　通过 LAN 接口进行数据传输 
多功能测量选件
◆　介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）
◆　可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）
◆　温度特性测量（选件 E4991A-007） 
描述：
    射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。 
材料评估： 
    提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。 
晶圆测量
    借助探针台连接套件，您可轻松地地连接到射频探头系统（由 Cascade Microtech 提供）上进行晶圆测量。 
温度特性评估
    温度特性测试套件 E4991A-007 是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能.
定货信息：