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SEF580-M50粗糙度仪
SEF580-M50粗糙度仪
订货号:MM-65076-00

400-000-1836
分机: / 801 / 804
产地:日本
品牌:
开发编号: N
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产品描述:

Portable type Measuring lnstrument. Surface profile can be displayed in real time.

Surface Roughness

The unit can output the parameters based on multiple standards just a time.(Roughness Measurement)

Contour

High resolution (Max. Sampling points : 64,000 points) and long measuring distance.

Surface roughness

Measuring range / Verticala resolution

Z: 800 μm / 0.08 nm

Drive speed

0.05-2mm/s

Stylus

R2 μm  0.75 mN or Less

 

Contour

Accuracy

Z: ±(2.5+0.5×|H) μm or Less  H: Displacement(mm)
X: ±(2.5+0.02L) μm or Less  L: Measuring Length(mm)

Measuring range

Z: 30 mm  X: 510 mm

Stylus

R25 μm  10-30 mN

 



品牌简介

株式会社小坂研究所(KOSAKA)于1950年创立,是日本第一家生产光学杠杆表面粗糙度计,具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为最具…株式会社小坂研究所(KOSAKA)于1950年创立,是日本第一家生产光学杠杆表面粗糙度计,具有悠久历史与技术背景的专业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为最具代表性单位且在日本精密测定也占有一席无法被取代的地位。

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